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使用X射線熒光光譜儀時(shí)避免影響測(cè)量的方法
發(fā)布時(shí)間：2019-06-13 10:11:19 點(diǎn)擊：8534
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)，總會(huì)有一些原因造成誤差，影響測(cè)量的效果，但這些因素其實(shí)可以避免，下面我們來談?wù)勗鯓诱_使用X射線熒光光譜儀，避免測(cè)量誤差。
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量中，巖石表面凹凸不平，巖石的結(jié)構(gòu)也不同，不均勻，X射線熒光光譜儀的探頭放置在上面時(shí)，同位素源于巖礦表面距離往往不能與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)完全相同。這種距離的變化只要毫米數(shù)量級(jí)就會(huì)引起較大的誤差，特別在測(cè)量輕元素，中等元素時(shí)（如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等），因此，進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)要選擇巖石露頭比較平坦的新鮮表面，對(duì)于極不平坦的巖石露頭，應(yīng)該人工加以整平，力求做到與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量條件相同。
X射線熒光光譜儀測(cè)量不平整巖石
在測(cè)量方法上，應(yīng)在原來位置多次重新安放探頭，并相應(yīng)測(cè)出數(shù)據(jù)，取其平均值，可以達(dá)到與制作標(biāo)準(zhǔn)曲線時(shí)的測(cè)量條件基本一致。因?yàn)檫@種因巖石表面不平整產(chǎn)生的誤差屬于偶然誤差范疇，只要有足夠多次的變位測(cè)量，其偶然誤差的平均值將趨于零。
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